1)½ÇÀü¸ðÀÇ°í»ç
- Èþ½Ì º¸±â°¡ ¿©·¯°³ÀÎ ¹®Á¦´Â °£´ÜÇÑ °è»ê ¸ÕÀú ÇÒ°Í
- 11 x ab °ü·Ã ºü¸£°Ô °è»êÇÏ´Â ¹æ¹ý ¿¬½ÀÇϱâ
- ÀÏÀÇ ÀÚ¸® °è»ê¸¸À¸·Î ºü¸£°Ô º¸±â¿¡¼ Á¤´ä ã±â
- skillÀ» ¼÷´ÞÇÏ¿© ½Ã°£ °ü¸®ÇÏ´Â ¹ý ¿¬½ÀÇϱâ
2) Deposition °øÁ¤
Á¤ÀÇ : ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶ °øÁ¤¿¡¼ µÎ²²°¡ um ´ÜÀ§ ÀÌÇÏÀÎ ¾ãÀº ¸·À» Çü¼ºÇÏ´Â °úÁ¤
¿ä±¸ Á¶°Ç : ¿øÇϴ Ư¼ºÀÇ Thin film Çü¼º (ÈÇÐÀû, Àü±âÀû, ±â°èÀû)
Within wafer, Wafer to wafer, Lot to lot ±ÕÀϼº
Gap filling property, step converage, conformal
mean free path ¿Í Step coverage °ü°è -> ÀúÁø°ø, ÁßÁø°ø, °íÁø°ø »êÅ¿¡ µû¸¥ steo coverage Ư¼º ÀÌÇØ
-Deposition °øÁ¤ÀÇ ºÐ·ù
1. PVD ÀåÁ¡ : ´Ü¼øÇÑ °øÁ¤, ´Ù¾çÇÑ ¹°Áú ÀÌ¿ë °¡´É
´ÜÁ¡ : ³·Àº Step coverage
TE(thermal evaporation)
Sputtering
2. CVD
°úÁ¤ : ¹ÝÀÀ¼º ±âü -> wafer Ç¥¸é ÈíÂø -> (¿, Plasma) -> Chemical reaction -> Thin film ÁõÂø
ÀåÁ¡ : ÁÁÀº step coverage
´ÜÁ¡ : ¸¹Àº º¯¼ö -> º¹ÀâÇÑ ÀåÄ¡, À¯ÇØ gas »ç¿ë, ÁõÂø °¡´É ¹°ÁúÀÌ Á¦ÇÑÀû
Á¾·ù : APCVD(Atmospheric pressure) & LPCVD(Low pressure) (±âÁØÀº °øÁ¤ ¾Ð·Â Â÷ÀÌ)
PECVD(Plasma Enhanced CVD) - ¹ÝÀÀ¼ºÀÌ ³ôÀº Plasma¸¦ ÀÌ¿ë -> ³·Àº ¿Âµµ¿¡¼ reaction ¼Óµµ Áõ°¡
¹¾î¼ ¼³¸í ÇÒ °Í
----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
HDP(High Density plasma CVD) PECVD¿¡ ºñÇØ ³ôÀº plasma ¹Ðµµ, Deposition + SputteringÀ» µ¿½Ã¿¡ ÁøÇà
ÀåÁ¡ : PECVD º¸´Ù ³·Àº ¿Âµµ, ¸Å¿ì ³ôÀº Quality, void ¹ß»ýX, ÁÁÀº step coverage
´ÜÁ¡ : ´À¸° ¼Óµµ
ALD(Atomic Layer Deposition) ¿øÀÚÃþ 1Ãþ¾¿ Çü¼º
ÀåÁ¡ : ¸Å¿ì Á¤±³, ¾ãÀº ¹Ú¸·, ³ôÀº Quality, 100% step coverage
´ÜÁ¡ : ¸Å¿ì ´À¸° ¼Óµµ, Á¦ÇÑÀûÀÎ precursors
¿Âµµ¿ÍÀÇ °ü°è : ±âº»ÀûÀ¸·Î Àú¿Â °øÁ¤ but ÀûÁ¤ ¿Âµµ À¯Áö ÇÊ¿ä
°í¿ÂÀÏ ¶§ precursorsÀÇ ¿ºÐÇØ or Å»ÂøÇö»ó, Àú¿ÂÀÏ ¶§ precursorsÀÇ ÀÀ°á ¹× ³·Àº ¹ÝÀÀ¼º