1. ¼ö¸®³í¸® ½ÇÀü¸ðÀÇ°í»ç 2ȸ (1)
- ÀÀ¿ë °è»ê ¹®Á¦
* ÀÏ·üÀº ½Ã°£¿¡ ´ëÇØ ½ÄÀ» ¼¼¿ìÀÚ
- ÀÚ·á Çؼ® ¹®Á¦
* %ÀÚ·áÀÇ Â÷ÀÌ´Â %p! (Â÷À̸¦ %¶ó°í Ç¥ÇöÇϸé Ʋ¸° ¼±ÅÃÁö)
* Å« ÀÚ·áÀÇ ºñÀ²Àº °£´ÜÇÏ°Ô ¸¸µéÀÚ
¿¹) 2833 : 2822 ¡æ 28 : 22 = 14 : 11
* % Áõ°¨Àº º¹ÀâÇؼ ³ªÁß¿¡ Ç®±âµµ ÇÏÁö¸¸, 1%¿Í 10%´Â °£´ÜÇÏ´Ï ¸ÕÀú °è»êÇصµ ¹«¹æÇÔ
* ºñÀ²°è»ê ºÐ¸ð ±âÁØÀ¸·Î ºñ±³Çؼ Ç®ÀÚ
¿¹)
💡 1ȸÂ÷º¸´Ù Ç® ¼ö ÀÖ´Â ¹®Á¦¼ö°¡ ´Ã¾î »ÑµíÇß´Ù. ±×·¡µµ ¿ª½Ã ¾ÆÁ÷ ½Ã°£ ÁÙÀ̱â´Â ¾î·Æ´Ù. ƯÈ÷ °è»êÀ» ³Ê¹« Á¤È®ÇÏ°Ô ÇÏ·ÁÇÏ´Ù º¸´Ï(ƯÈ÷ ºñÀ²) ½Ã°£ÀÌ ¿À·¡ °É¸°´Ù. °£´ÜÈ÷ Ç®¾î³»´Â µ¥ ³ë·ÂÀ» µé¿©¾ß°Ú´Ù.
2. ¹ÝµµÃ¼ 8´ë °øÁ¤ : °øÁ¤ È帧¿¡ µû¸¥ MOSFET Á¦ÀÛ °úÁ¤
8´ë °øÁ¤ ¿¹»ó ±âÃâ ¹®Á¦
- ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡ ´ëÇØ ¼³¸íÇϽÿÀ.
- 8´ë °øÁ¤¿¡ ´ëÇØ ¼³¸íÇϽÿÀ.
¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡´Â ´ÙÀ½°ú °°ÀÌ 8´ë °øÁ¤°ú Ãß°¡ÀûÀ¸·Î CMP° ÀÖ½À´Ï´Ù.
ù¹ø°·Î single crystal Si Wafer¸¦ Á¦Á¶ÇÕ´Ï´Ù. ( + ³ì¾Æ ÀÖ´Â Si¿¡ single Si seed¸¦ ³Ö°í õõÈ÷ µ¹¸®¸ç µé¾î ¿Ã·Á single Si ingotÀ» ¸¸µå´Â Czochralski ¹æ¹ý°ú single Si seed ÇÊ¿ä ¾øÀÌ poly SiÀ» ³ìÀÎ ÈÄ Àç°áÁ¤½ÃÄÑ single Si¸¦ ¸¸µå´Â Floating zone ¹æ¹ýÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. »ý»ê¼ºÀº Cz°¡ Fzº¸´Ù ³ôÁö¸¸ Ç°ÁúÀº Fz°¡ ³ô¾Æ °íÇ°ÁúÀÇ Si Wafer¸¦ ÇÊ¿ä·Î ÇÏ´Â °øÁ¤¿¡´Â Fz°¡ ¾²ÀÔ´Ï´Ù.)
µÎ¹ø°·Î Si Wafer À§¿¡ oxideÃþÀ» Çü¼º½ÃÄÑÁÝ´Ï´Ù. »ê¼Ò¸¦ »ç¿ëÇÏ´Â Dry oxidation°ú ¹°À» »ç¿ëÇÏ´Â Wet oxidationÀÌ ÀÖÀ¸¸ç ¼Óµµ´Â WetÀÌ ºü¸£Áö¸¸ Ç°ÁúÀº Dry°¡ ÁÁ½À´Ï´Ù. ( + Wet oxidationÀÌ ¼Óµµ°¡ ºü¸¥ ÀÌÀ¯´Â oxideÃþÀÌ ¾î´ÀÁ¤µµ Çü¼ºµÈ ÈÄ¿¡´Â Si wafer ÂÊÀ¸·Î ´Ù°¡°¡±â À§ÇØ oxideÃþ ³»ºÎ¿¡¼ diffusion µÇ¾î¾ß Çϴµ¥ ±× ¼Óµµ°¡ H2O°¡ O2º¸´Ù ºü¸£±â ¶§¹®¿¡ oxidation ¼Óµµ°¡ ºü¸¨´Ï´Ù.)
¼¼¹ø°·Î Photo °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. oxideÃþ¿¡ PRÀ» ¹Ù¸¥ ÈÄ Mask¸¦ ÅëÇØ ³ë±¤ ¹× Çö»óÀ» °ÅÃÄ wafer À§¿¡ ÆÐÅÏÀ» ±×·ÁÁÖ´Â °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. ÀÌ ¶§ PRÀº wafer¿ÍÀÇ Á¢Âø¼º, ¿ ¹× ÈÇÐÀû ¾ÈÁ¤¼º, Á¦°Å ¿ëÀ̼ºÀÌ ÁÁ¾Æ¾ß ÇÕ´Ï´Ù. Photo°øÁ¤¿¡¼ Áß¿äÇÑ ¿ä¼Ò´Â DOF¿Í resolutionÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ( + DOF´Â Depth Of Focus·Î Focus°¡ Àß ¸Â´Â ¿µ¿ª, Áï À§¾Æ·¡·Î focus°¡ ¾î´ÀÁ¤µµ ÀÏÁ¤ÇÑ ¹üÀ§¸¦ ¸»ÇÕ´Ï´Ù. resolutionÀº Çػ󵵷Π°øÁ¤ÀÌ ¹Ì¼¼ÈµÊ¿¡ µû¶ó resolutionÀÌ ÁÁ¾Æ¾ß wafer Ç¥¸é¿¡ ¹Ì¼¼ÇÑ ÆÐÅÏÀ» ±×¸± ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.)
³×¹ø°·Î Etching °øÁ¤À¸·Î ±×·ÁÁø ÆÐÅÏ´ë·Î ºÒÇÊ¿äÇÑ ºÎºÐÀ» Á¦°ÅÇÏ´Â °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. ±âü³ª plasma¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ´Â Dry Etching, ÈÇÐÀû ¿ë¾×À» »ç¿ëÇÏ´Â Wet EtchingÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ( + Wet etchingÀº ºü¸£°í selectivity°¡ ³ô´Ù´Â ÀåÁ¡ÀÌ ÀÖÁö¸¸ isotropicÇÏ°Ô ¿¡ÄªµÇ°í, Ȩ »çÀÌ °Å¸®°¡ Á¼À» ¶§´Â Ç¥¸éÀå·Â¿¡ ÀÇÇØ ¾×ü°¡ ħÅõÇÏÁö ¸øÇÑ´Ù´Â ´ÜÁ¡µµ ÀÖ½À´Ï´Ù. µû¶ó¼ ÃÖ±Ù ¹Ì¼¼È¸·Î¿¡´Â Wet etchingº¸´Ù ´ëºÎºÐ Dry etchingÀ» »ç¿ëÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.)
´Ù¼¸¹ø°´Â Thin film deposition ¹× Ion implantation °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. Thin film depositionÀº µÎ²²°¡ ¸¶ÀÌÅ©·Î¹ÌÅÍ ´ÜÀ§ ÀÌÇÏÀÇ ¾ãÀº ¸·À» ÁõÂø½ÃÅ°´Â °øÁ¤À¸·Î ÈÇÐÀû ¹æ¹ýÀ¸·Î ÁõÂø½ÃÅ°´Â CVD¿Í ¹°¸®ÀûÀÎ ¹æ¹ýÀÇ PVD°¡ ÀÖ½À´Ï´Ù. Ion ImplantationÀº ºÒ¼ø¹°ÀÎ ÀÌ¿ÂÀ» ¿øÇÏ´Â ¾ç¸¸Å ¿øÇÏ´Â À§Ä¡¿¡ ÁÖÀÔ½ÃÅ°´Â °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. ( + Ion implantationÀÇ ´ÜÁ¡À¸·Î Si Ç¥¸éÀÌ ¼Õ»óµÉ ¼ö ÀÖ´Ù´Â Á¡ÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ´Â 1000¡É ÀÌ»óÀÇ ¿Âµµ¸¦ °¡ÇÏ´Â ¿Ã³¸®¸¦ ÅëÇØ Á¦°ÅÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ¶Ç, ¿øÄ¡ ¾Ê°Ô ÀÌ¿ÂÀÌ ±í¼÷ÀÌ ÁÖÀ﵃ ¼ö µµ ÀÖ´Ù´Â Á¡ÀÌ ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ´Â oxideÃþÀ» ¹Ì¸® ±ò¾Æ µÎ°Å³ª, ÀÌ¿ÂÀ» ¹Ì¸® ÁÖÀÔÄѵΰųª, ȤÀº ÁÖÀÔ °¢µµ¸¦ tilt ½ÃÅ°´Â ¹æ¹ýÀ¸·Î ÇØ°á ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.)
¿©¼¸¹ø°·Î Metallizaiton °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. Àü·ù°¡ È带 ¼ö ÀÖµµ·Ï ±Ý¼Ó ¹è¼±À» ¸¸µå´Â °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù.
ÀÏ°ö¹ø쨰·Î EDS ¶Ç´Â Test °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. Wafer level¿¡¼ °Ë»ç¸¦ Çϸç repair °¡´É ¿©ºÎ¸¦ ÆÇ´Ü ÈÄ °¡´ÉÇÏ´Ù¸é repair ÈÄ ¾çÇ°À¸·Î ¸¸µé°í, ºÒ°¡´ÉÇÏ´Ù¸é inkingÀ» ÅëÇØ ºÒ·®À¸·Î ÆÇÁ¤ÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ ¶§ Yield, Áï ¼öÀ²ÀÌ Áß¿äÇѵ¥ ÀÌ´Â Á¤»óÀûÀ¸·Î »ý»êµÇ chip ¼ö / ¼³°è ÃÖ´ë chip ¼ö X 100 (%)·Î °è»êÇÕ´Ï´Ù.
¸¶Áö¸·À¸·Î Packing °øÁ¤ÀÔ´Ï´Ù. ¿Ï¼ºµÈ ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ¸¦ Æ÷ÀåÇÕ´Ï´Ù.
✍️ ¹ÝµµÃ¼ 8´ë °øÁ¤ÀÌ ¸éÁ¢ Áú¹®À¸·Î ³ª¿ÔÀ» ¶§´Â ¸ðµç ³»¿ëÀ» µðÅ×ÀÏÇÏ°Ô ÇÑ ¹ø¿¡ ¼³¸íÇÒ ¼ö´Â ¾ø´Ù. ¸ÕÀú ´ë·«ÀûÀ¸·Î ¼³¸í ÈÄ ÀÚ¼¼ÇÑ ³»¿ëÀº ¸éÁ¢°üÀÇ Áú¹®¿¡ ´ëÇØ ´äÀ» ÇÏ¸ç µ¡ºÙÀÌÀÚ.